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LED加速老化试验及寿命测试系统
主要功能:用于单颗LED、LED模组的常规老化、加速老化、光通维持特性试验、寿命试验和温度特性试验。

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设备用途:
主要功能:用于单颗LED、LED模组的常规老化、加速老化、光通维持特性试验、寿命试验和温度特性试验。测试项目包括:LED光度(或光效)-时间变化曲线(光通量维持特性曲线); LED光度-管基温度-时间变化曲线(温度特性试验)、LED色度-管基温度-时间变化曲线(温度特性试验)、LED结电压-时间变化曲线、LED结电压-光度变化曲线、LED结电压-色度变化曲线等。并可通过数据处理,建立推算模型,推算出该加速应力下LED样品的预期寿命。
满足IESNA LM-80-2008、IES TM-21、ENERGY STAR等国际及国内相关标准。
 
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